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temperature test chamber的技術(shù)指標(biāo)
點(diǎn)擊次數(shù)：2166 更新時(shí)間：2018-12-23

High and low temperature test chamber的技術(shù)指標(biāo)

High and low temperature test chamber是高低溫試驗(yàn)箱的英文名稱(chēng)，是一種具備制冷制熱的環(huán)境可靠性試驗(yàn)設(shè)備，起高溫常規(guī)為150℃，低溫可達(dá)-70℃。主要是對(duì)于電子，電工，汽車(chē)，船舶等各行業(yè)產(chǎn)品和部件，進(jìn)行耐高低溫應(yīng)力的測(cè)試設(shè)備。屬于試驗(yàn)室儀器中的常規(guī)產(chǎn)品。